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FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 250 是一款高性能、结构紧凑且应用广泛的X射线测量仪，专为无损涂层厚度测量与材料分析而设计。该仪器尤其适用于测量极薄涂层，即使面对成分复杂或浓度极低的样品，依然表现出的分析能力。

典型应用领域包括：

电子与半导体行业：测量从几纳米起始的功能性镀层

消费者安全检测：如玩具中铅等有害元素的痕量分析

珠宝、钟表制造及贵金属精炼：高精度合金成分分析

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XAN 250 配备可电动调节的准直器孔径和初级滤光片，可根据不同样品灵活配置，为每次测量提供理想的激发条件。先进的硅漂移探测器（SDD）确保了高分辨率、高精度以及优异的检测灵敏度。

所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 系列仪器均以出色的测量精度和长期稳定性著称。得益于其稳定的性能，仪器的重新校准周期显著延长，有效节省了维护时间与成本。对于高精度要求的应用，用户仍可随时执行校准操作。

此外，Fischer 的基本参数法（Fundamental Parameters Method），使仪器能够在无需标准样品校准的情况下，准确分析固体、液体以及多层涂层系统，极大提升了使用的灵活性与效率。