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FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM 是高性能、结构紧凑且用途广泛的X射线测量仪器，专为无损涂层厚度测量与材料分析而设计。凭借的精度和长期稳定性，该系列仪器广泛应用于质量保证、来料检验及生产过程控制等领域。

典型应用包括：

螺钉、螺栓、螺母等小型零部件的涂层厚度检测

触点及各类电子元器件的分析

电镀槽液成分的测定

XULM 240 型号额外适用于：

极小零件、插头触点及导线的高精度测量

印刷电路板（PCB）的手动检测

珠宝与钟表行业的精细测量

仪器采用比例计数管，实现高计数率，显著提升测量精度。得益于FISCHER的基本参数法（Fundamental Parameters Method），系统可对固体、液体样品及多层涂层体系进行分析，通常无需额外校准，大幅节省时间和操作成本。

XULM 240 配备微焦点X射线源，并支持电动切换的准直孔径和初级滤光片，确保对微小区域进行精准聚焦测量，特别适合复杂几何形状或高密度排布的小型工件。

凭借出色的重复性与极低的重新校准频率，FISCHERSCOPE X-RAY 系列为工业质量控制提供了高效、可靠的解决方案。