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菲希尔涂层非接触X射线测厚仪 菲希尔涂层非接触 X 射线测厚仪基于 X 射线与物质的相互作用原理。当 X 射线照射到被测物体表面时，一部分 X 射线会被涂层吸收和散射，另一部分则会穿透涂层到达基体。通过测量穿透涂层的 X 射线强度，并与已知厚度的标准样品进行对比，就可以精确计算出涂层的厚度。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500是德国菲希尔公司 (Helmut Fischer GmbH) 研发的旗舰级便携式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，专为涂层厚度精确测量和材料成分分析设计，被誉为 “市场上精确的手持式 XRF 分析仪“。

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