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菲希尔、X射线测厚仪XDL230

菲希尔、X射线测厚仪XDL230

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德国 Helmut Fischer 公司生产的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,专为自动化和高精度测量设计,适用于各类镀层厚度测量和材料成分分析。

菲希尔、X射线测厚仪XDL230的详细资料:

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230应用领域

电子行业

印刷电路板 (PCB) 镀层测量

半导体和微电子元件镀层分析

ENIG (化学镍金) 镀层厚度精确测量

电镀工业

防护性镀层 (如镀锌、镀铬) 厚度检测

装饰性镀层测量 (如装饰铬)

大规模生产零部件的自动化检测

汽车与航空航天

发动机零部件镀层质量控制

航空航天精密零件表面处理检测

防腐镀层厚度均匀性评估

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230其他领域

贵金属镀层 (金、银等) 厚度测量

功能性涂层分析 (如电子触点镀层)

菲希尔、X射线测厚仪XDL230

型号XY 工作台Z 轴自动化程度适用场景

XDL210平面支撑台固定 Z 轴基础型简单样品,手动定位

XDL220平面支撑台马达驱动 Z 轴标准型需要高度调整的样品

XDL230手动 XY 工作台马达驱动 Z 轴增强型需要 XY 平面移动的样品

XDL240马达驱动自动 XY马达驱动可编程 Z高级自动化产线,大批量检测,精密测量



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