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XDLM237 是一款高精度、非破坏性的X荧光射线测厚仪，专为金属镀层厚度检测与成分分析而设计，广泛应用于电子、汽车、五金、电镀及精密制造等行业。该设备采用的能量色散X射线荧光（ED-XRF）技术，可在数秒内快速、准确地测量单层或多层金属镀层的厚度，如金、银、镍、铜、锡、锌、铬等常见镀层材料。

XDLM237 配备高性能硅漂移探测器（SDD），具有优异的能量分辨率和计数率，确保在微小区域（最小测量点可达0.1mm）内也能获得稳定可靠的测试结果。其内置高稳定性X射线管，支持多档电压与电流调节，可根据不同样品材质智能优化测试参数，提升测量精度与重复性。

仪器采用人性化操作界面，搭载7英寸彩色触摸屏，支持中英文双语切换，操作简便直观。用户可通过预设程序快速调用常用测试条件，亦可自定义测量方案。同时，XDLM237 支持数据自动存储、导出及打印功能，并可连接PC端专业分析软件，实现更深入的数据处理与报告生成。